BL5S1 - 材料化学状態・構造分析 I (硬X線XAFS)

ビームライン概要

硬Ｘ線領域のＸ線吸収微細構造分光（XAFS）測定を行い，材料中の原子の結合状態や局所構造を解析する．エネルギー範囲としては，K吸収端でスカンジウム～モリブデン，LIII吸収端でインジウム～ウランを対象にXAFS測定が可能．

研究利用分野

材料開発一般．触媒，燃料電池の開発，微量不純物の検出・測定，蛍光体の開発，光記録デバイスの記録層の開発等．環境中に存在する元素の検出とその存在形態の特定や有害物質の拡散防止，蓄積に関する研究等にも応用可能．

ビームライン性能(計算値)

光エネルギー

5～20 keV (0.25～0.06 nm)

ビームサイズ

0.40 mm×0.14 mm

分解能 (E/ΔE)

7000

光子数

1×10¹¹ Photons/sec

測定装置仕様・特徴

検出器

• 透過測定用イオンチェンバー
• 蛍光測定用19素子ゲルマニウム検出器
• マルチカソード検出器（SII Vortex-Ex-60）

試料周り

• 試料温度変更用のクライオスタット（10K～RT）
• 自動サンプル交換装置（9連）
• 実験用ガス供給排気システム（酸素，水素，窒素，フリー）
• 運用開始後，順次QXAFSを整備し，時分割測定を可能とする．

ビームライン及び測定装置概略図

(参考) 他施設の類似ビームライン

Photon Factory BL12C 他