BL1N2 - 軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ

ビームライン概要

軟X線領域の吸収端近傍のX線吸収微細構造分光測定 (XAFS) を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析するためのビームラインです。Na, Mg, Al の K 吸収端，Zn, Ga, Ge, As, Se, Br の L 吸収端を対象とした測定が可能です（2015年6月現在）。今後、回折格子の増設によって測定可能な軽元素（C, N, O など）を増やすことを目指しています。また、現在は超高真空下での測定に限られますが、ロードロック及びサンプルバンクを備えており、一度に複数のサンプルを導入することができます。将来的には Be 窓を介した大気圧測定室による 1 気圧 He 雰囲気下での測定を可能にすることを目指しています。装備している取り外し式のトランスファーベッセルは、軟 X 線ビームラインの BL6N1 および BL7U と共通のため、3 ビームライン間での大気非曝露での試料導入および測定が可能です。

ビームライン性能

光エネルギー

1.0 - 1.9 keV (1.2 - 0.6 nm) [回折格子：1000L/mm]

ビームサイズ(実測)

1.0 × 1.0 mm (H x V)

分解能 (E/ΔE)

> 2000 @ 1 keV (設計値)

光子数

1.0 × 10¹¹ Photons/sec @ 1 keV (設計値)