BL6N1 - 材料化学状態・構造分析 II (軟Ｘ線XAFS)
ビームライン概要
軟Ｘ線領域のＸ線吸収微細構造分光（XAFS）測定を行い，材料中の原子の結合状態や局所構造を解析する．エネルギー範囲としては，K吸収端でナトリウム～クロム，LIII吸収端でルビジウム～アンチモンを対象にXAFS測定が可能．
研究利用分野
触媒材料，ナノ粒子材料，エネルギー材料，生体医療材料などの開発段階に応じたラボレベルの試料から実使用試料までXAFS測定が可能であり，大気，土壌，水中など，生活環境における有害物質の探査にも応用出来る．
ビームライン性能（2012.9現在、分光結晶InSb,Si,Ge)(計算値)
- 光エネルギー
- 1.75〜6 keV (0.7〜0.2 nm)
- ビームサイズ
- 0.6 mm×0.2 mm
- 分解能 (E/ΔE)
- > 2000 @ 3keV
- 光子数
- 7×1010 Photons/sec
測定装置仕様，特徴
電子衝撃加熱による試料加熱可能な試料マニピュレータと，静電半球型光電子分光アナライザを装備する表面XAFSチャンバと，ロードロック及び試料輸送機構を備え，イオンスパッタ装置，LEED分析器を装備する試料準備チャンバを整備する．
また，大気圧条件XAFS測定システムを合せて整備することで，製造現場や材料の実使用環境における測定をサポートする．
ビームライン及び測定装置概略図
(参考) 他施設の類似ビームライン
- Photon Factory
- BL11B，HiSOR BL-3 他